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Kürzere automatisierte Prüfabläufe

RF-Messgeräte
Kürzere automatisierte Prüfabläufe

Der Vektorsignalanalysator (VSA) NI PXIe-5663E und der Vektorsignalgenerator (VSG) NI PXIe-5673E, jeweils für Signale bis 6,6 GHz, sollen automatisierte Prüfabläufe für Geräte mit modernen Wireless-Standards erheblich verkürzen. Änderungen an den RF-Konfigurationsparametern könnten während eines Tests schneller vorgenommen werden, betont das Unternehmen. Der neue Modus für hohe Schleifenbandbreite erhöhe die Messgeschwindigkeit, indem die Einschwingzeiten lokaler Oszillatoren auf 300 µs oder noch weniger reduziert werden.

National Instruments, München, Tel (089) 7413130
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