Hersteller von Präzisionsteilen müssen immer strenger werdende Vorgaben hin zu kleineren Teileabmessungen und engeren Toleranzen nachweisbar einhalten und dennoch wirtschaftlich fertigen. Dabei ist eine zerstörungsfreie Prüfung enorm wichtig.
Taktile Messsysteme zerstören die zu prüfende Oberfläche und bieten nicht die nötige Auflösung, um die amorphe Struktur eines Zahnimplantates an funktionsrelevanten Flächen zu erfassen. So auch bei den Produkten der Altatec GmbH als Hersteller des Camlog-Implantatsystems. Damit ein möglichst gutes Anwachsen des Kieferknochens an das Implantat erfolgen kann, ist die Oberflächeneigenschaft des Implantates wichtig. Diese gestrahlten und säuregeätzten Oberflächen der Serie Promote und Promote plus weisen eine identische Mikro- und Makro-Oberflächenstruktur auf. Solche komplexen Oberflächen haben sich bewährt, was in wissenschaftlichen Untersuchungen mit Resultaten aus Zellkulturen und der Knochenhistologie belegt wurde.
Für die Funktion und die Langlebigkeit eines Implantates ist die Rautiefe wichtig, deshalb ist die Überprüfung unumgänglich. Die Qualität dieser Oberfläche wird durch ein hoch auflösendes Rasterelektronenmikroskop (REM) beurteilt. Eine quantitative Auswertung sowie ein quantitativer Parameter, der zur Qualititätsüberwachung verwendet werden kann, ist so aber nicht festzulegen. Strukturen sind zwar sichtbar, aber leider nicht messbar.
Mit der Entwicklung eines 100x-Objektives mit einer Ortsauflösung von 0,36 µ sowie der Höhenauflösung von 0,1 µm über den gesamten Scanbereich und einer Kamera mit einer Million Bildpunkte ist es möglich, alternativ zum Rasterelektronenmikroskop ein Weißlichtinterferometer zu verwenden. Das Ergebnis ist eine quantitative Auswertung der betrachteten Oberfläche.
Die schnelle und einfache Messung der Oberfläche erfolgt berührungslos. Das ist ein Vorteil gegenüber Tastschnittgeräten, bei denen mit einer Diamantspitze auf der Oberfläche taktil gemessen wird. Durch das einfache Tauschen der Objektive oder Zoomoptiken können unterschiedlich große Messfelder aufgenommen werden. Dabei wird ohne jedes Kalibrieren immer die gleiche Höhenauflösung von 0,1 nm erreicht. Auch kleine tiefliegende Flächen, wie die der Camlog-Implantate, sind so messbar. Eine Rückführung der Messergebnisse zu internationalen Standards ist möglich. Auch 2D-Rautiefenkenngrößen lassen sich mit dem NewView rückführen.
Frank Stanzel Zygolot GmbH, Darmstadt
Ihr Stichwort
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