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Scharfer Lichtblick

Hyperspectral Imaging: Neue Möglichkeiten in der optischen Spektroskopie
Scharfer Lichtblick

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Hyperspectral Imaging von weißen Polymeren: nach spektraler Analyse können die Polymere jetzt vollständig voneinander unterschieden werden Bild: Fraunhofer IWS Dresden
Eine neue bildgebende spektroskopische Technik ermöglicht es, mit Hilfe von sichtbaren und Infrarotlicht neue Informationen zur chemischen Zusammensetzung und Topologie eines Objektes zu ermitteln.

Was haben Gewebeuntersuchung, Schädlingsbefall, Schichtdickenbestimmung, Papierherstellung und Müllsortierung gemein? Dass die für den Anwender relevanten Informationen im vom Objekt reflektierten Licht bereits enthalten sind! Man muss diese Informationen „nur noch“ ortsaufgelöst dekodieren, und schon weiß der Mediziner, ob und wo sich bei der Gewebeprobe ein Tumor befindet, der Ingenieur, welche Qualität die Schicht bzw. die Papierbahn aufweist. Der Schlüssel dazu ist immer wieder die ortsaufgelöste Dechiffrierung der im Licht enthaltenen Informationen.

Diese für die Spektroskopie neuen, innovativen Einsatzgebiete werden durch die Technik des „Hyperspectral Imaging“ (HSI) eröffnet, eine Art Zeilenkamera, mit der sowohl im sichtbaren als auch im nahen Infrarotbereich durch Bewegung des Objektes oder der Kamera vollständig spektral aufgelöste Bilder erzeugt werden können. Je nach Arbeitsabstand und verwendetem Objektiv können Quadratkilometer– oder aber Quadratmikrometer-große Bereiche untersucht werden.
Diese neue bildgebende spektroskopische Technik ist seit kurzem am Dresdner Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik IWS sowohl für einen Spektralbereich von 400 bis 1000 nm als auch für den Bereich von 1000 bis 2500 nm verfügbar. Neben den Informationen zu Farbe, Fluoreszenz und Absorption im Bereich des sichtbaren Lichts können aus dem Bereich des nahen Infrarots Informationen zur chemischen Zusammensetzung, aber auch zur Topologie des Untersuchungsobjektes gewonnen werden. Beide Systeme können mit einer Aufnahmefrequenz von bis zu 200 Hz betrieben werden, so dass sich neben einer hohen Ortsauflösung auch eine hohe zeitliche Abfolge in der Aufnahme der Spektren ergibt.
Im Gegensatz zu bisherigen Monitoring-Lösungen in industriellen Prozessen kann mit Hilfe eines HSI-Systems die Überwachung nicht nur punktuell erfolgen, sondern es kann der gesamte Prozess erfasst und ausgewertet werden. Einige erste Beispiele gibt es bereits in der automatisierten Sortierung (Gesteine, Polymere, Glas), der Geländeexploration (Vegetation) oder auch der Lebensmittelkontrolle. Die Forscher des Fraunhofer IWS planen bereits weitere Projekte zur flächigen Erfassung von Verunreinigungen oder Qualifizierung von Beschichtungen (z. B. auf Stahl) sowie zur Gasdetektion und Anlagenüberwachung (z. B. Lecksuche). Dem Ideenreichtum sind an dieser Stelle nur wenige Grenzen gesetzt.
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