Weißlichtinterferometrie: Rautiefenmessung von Zahnimplantaten

Berührungslos in die Tiefe

Anzeige
Hersteller von Präzisionsteilen müssen immer strenger werdende Vorgaben hin zu kleineren Teileabmessungen und engeren Toleranzen nachweisbar einhalten und dennoch wirtschaftlich fertigen. Dabei ist eine zerstörungsfreie Prüfung enorm wichtig.

Taktile Messsysteme zerstören die zu prüfende Oberfläche und bieten nicht die nötige Auflösung, um die amorphe Struktur eines Zahnimplantates an funktionsrelevanten Flächen zu erfassen. So auch bei den Produkten der Altatec GmbH als Hersteller des Camlog-Implantatsystems. Damit ein möglichst gutes Anwachsen des Kieferknochens an das Implantat erfolgen kann, ist die Oberflächeneigenschaft des Implantates wichtig. Diese gestrahlten und säuregeätzten Oberflächen der Serie Promote und Promote plus weisen eine identische Mikro- und Makro-Oberflächenstruktur auf. Solche komplexen Oberflächen haben sich bewährt, was in wissenschaftlichen Untersuchungen mit Resultaten aus Zellkulturen und der Knochenhistologie belegt wurde.

Für die Funktion und die Langlebigkeit eines Implantates ist die Rautiefe wichtig, deshalb ist die Überprüfung unumgänglich. Die Qualität dieser Oberfläche wird durch ein hoch auflösendes Rasterelektronenmikroskop (REM) beurteilt. Eine quantitative Auswertung sowie ein quantitativer Parameter, der zur Qualititätsüberwachung verwendet werden kann, ist so aber nicht festzulegen. Strukturen sind zwar sichtbar, aber leider nicht messbar.
Mit der Entwicklung eines 100x-Objektives mit einer Ortsauflösung von 0,36 µ sowie der Höhenauflösung von 0,1 µm über den gesamten Scanbereich und einer Kamera mit einer Million Bildpunkte ist es möglich, alternativ zum Rasterelektronenmikroskop ein Weißlichtinterferometer zu verwenden. Das Ergebnis ist eine quantitative Auswertung der betrachteten Oberfläche.
Die schnelle und einfache Messung der Oberfläche erfolgt berührungslos. Das ist ein Vorteil gegenüber Tastschnittgeräten, bei denen mit einer Diamantspitze auf der Oberfläche taktil gemessen wird. Durch das einfache Tauschen der Objektive oder Zoomoptiken können unterschiedlich große Messfelder aufgenommen werden. Dabei wird ohne jedes Kalibrieren immer die gleiche Höhenauflösung von 0,1 nm erreicht. Auch kleine tiefliegende Flächen, wie die der Camlog-Implantate, sind so messbar. Eine Rückführung der Messergebnisse zu internationalen Standards ist möglich. Auch 2D-Rautiefenkenngrößen lassen sich mit dem NewView rückführen.
Frank Stanzel Zygolot GmbH, Darmstadt

Ihr Stichwort
• Rautiefenprüfung • Berührungslose Messung
• Weißlichtinterferometer
• Oberflächenkontrolle • Implantatsysteme
Anzeige

Aktuelle Ausgabe

Titelthema: Mobilfunkstandard 5G

 

Was ein 5G-Netz in Krankenhaus und Produktion leisten könnte

Newsletter

Jetzt unseren Newsletter abonnieren

medicine&technology

Die englische Ausgabe finden Sie hier als PDF.

Sie erscheint 2 Mal im Jahr mit europaweiter Verbreitung.

Alle Webinare & Webcasts

Webinare aller unserer Industrieseiten

Aktuelles Webinar

Multiphysik-Simulation

Medizintechnik: Multiphysik-Simulation

Whitepaper

Whitepaper aller unserer Industrieseiten

Kalender

Termine für die Medizintechnik-Branche

Anzeige
Anzeige

Industrie.de Infoservice

Vielen Dank für Ihre Bestellung!
Sie erhalten in Kürze eine Bestätigung per E-Mail.
Von Ihnen ausgesucht:
Weitere Informationen gewünscht?
Einfach neue Dokumente auswählen
und zuletzt Adresse eingeben.
Wie funktioniert der Industrie.de Infoservice?
Zur Hilfeseite »
Ihre Adresse:














Die Konradin Verlag Robert Kohlhammer GmbH erhebt, verarbeitet und nutzt die Daten, die der Nutzer bei der Registrierung zum Industrie.de Infoservice freiwillig zur Verfügung stellt, zum Zwecke der Erfüllung dieses Nutzungsverhältnisses. Der Nutzer erhält damit Zugang zu den Dokumenten des Industrie.de Infoservice.
AGB
datenschutz-online@konradin.de