Mit einer neuen Mikroskopie-Methode lassen sich kleinste Bereiche von Zellen genauer untersuchen als mit konventioneller Mikroskopie. Das European Neuroscience Institute in Göttingen und das Leibniz-Institut für Ostseeforschung Warnemünde (IOW) haben dazu die STED-Mikroskopie und die Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) kombiniert. Bei der STED-Mikroskopie (Stimulated Emission Depletion) wird das von der zu untersuchenden Probe emittierte Licht durch einen ringförmigen Laser am Rand ausgeblendet, sodass der relevante Bereich wie durch ein Schlüsselloch betrachtet wird. Im Hochleistungsmessgerät Cameca NanoSIMS 50L wird die zu untersuchende Probe kontinuierlich mit einem fokussierten Strahl aus so genannten Primärionen beschossen. Dies löst Atome und Moleküle aus der Oberfläche der Probe. Diese Sekundärionen werden dann im Massenspektrometer identifiziert.
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