Das Analyse-System Apmon zum kontinuierlichen Monitoring von Reinräumen erlaubt erstmalig die kontinuierliche Überwachung von Oberflächen-Belastungen durch große Partikel mit einem Durchmesser von über 20 µm. Es eröffnet damit Analysemöglichkeiten in Reinräumen jenseits der ISO Klasse 5, in denen kontinuierliche, extraktive Partikel-Monitoringsysteme prinzipbedingt nicht angewendet werden können.
Für das Apmon-System der PMT Partikel-Messtechnik GmbH aus Heimsheim wurde das traditionelle Verfahren der Sedimentationsplatten-Mikroskopie in Richtung eines vollautomatischen und kontinuierlichen Analysators weiterentwickelt. Hierfür erfasst ein laseroptisches Verfahren die Sedimentation großer Partikel auf ein Array von Testoberflächen. Änderungen in der Partikel-Belegungszahl werden registriert und am Ende eines bestimmten Zeittaktes als Partikelanzahl und Partikelverteilung ausgewiesen.
Einsetzen lässt es sich zur Erweiterung konventioneller Monitoringstrategien in Richtung größerer Partikel, aber auch als Alternative zu manuellen und personalintensiven Messreihen mit Sedimentationsplatten.
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