Bei dem Oberflächenmessgerät Marsurf CWM 100 vereint der Messplatz laut Hersteller erstmals konfokale Mikroskopie mit der Weißlicht-Interferometrie. Diese Kombination erlaubt es, (fast) alle technischen und optischen Oberflächen zuverlässig zu erfassen und hochgenau zu messen. Dank unterschiedlicher und für die entsprechende Messmethode geeigneter Objektive in einem Objektiv-Revolver wechselt der Nutzer schnell und einfach zwischen verschiedenen Vergrößerungen und Bildfeldgrößen. Ein motorisch angetriebener CNC-gesteuerter X/Y-Tisch verfährt und positioniert den Prüfling automatisch. Dadurch sind auch Analysen größerer Flächen durch Bildzusammenfügungen einfach, schnell und präzise möglich. Die Auswertung der Profile erfolgt über eine leistungsstarke integrierte Software. Weiterhin ist die Auswertung mit der neuen Topographiesoftware Marsurf MfM möglich.
Mahr, Göttingen, Tel. (0551) 7073-0
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